涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪
深圳市方源仪器有限公司特价供应涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪，涂镀层测厚仪CMI233是全新一款可检测测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，可以测量钢铁上的各种电镀（镀镍除外）、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度，还可用于测量各种金属箔（如铜箔、铝箔、金箔等）和非金属薄膜（如纸张、塑料等）的厚度。也可测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪产品仪器示意图：
涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪规格参数：
涂镀层测厚仪CMI233
品牌：英国牛津仪器Oxford
测试范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm);电涡流0-60mils(0-1.52mm)
分辨率：0.01mils(0.1um)
测试精度：1%或±0.1um依照参考标准片
保修期：1年
尺寸: 14.9X7.94X3.02cm
重量: 260g(含电池)
超声波测厚仪
品牌：其他品牌
测试范围：
B/标准13-1000um/0.5-40mils
B/**13-1000um/0.5-40mils
C/标准50-3800um/2-150mils
C/**50-3800um/2-150mils
分辨率：2um/0.1mils
测试精度：± 2um +3% 读数/± 0.1mils + 3% 读数
保修期：1年
尺寸: 146 x 64 x 31mm
重量: 105g（不含电池）
涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪
其他测厚仪分类作用：
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.(周)
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