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Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪
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产品展商: 英国牛津仪器(Oxford)
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简单介绍
Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪,测试采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

   的详细介绍

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

 

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪,测试采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

 

 

 

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪参数规格:

型号:CMI233+ECP(探头)

品牌:英国牛津仪器Oxford

测量范围:0-1.52mm(0-60mils)

测量精度:依照参考标准片±0.1um

单位:um/mils

尺寸:14.9X7.94X3.02cm 

重量:260g(含电池) 

电源:9V电池

注意:该仪器还可进行涂层侧后,可选购探头SMP-2

 

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪检测原理:

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。

 

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