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Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
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产品名称:
Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
产品型号:
CMI243
产品展商:
英国牛津仪器（Oxford）
关注指数:474
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简单介绍
深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪，这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术，Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
的详细介绍
Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪
深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪，这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪采用基于相位的电涡流技术，CMI243手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。单用测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪符合GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量。便携设计，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力.
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产品名称
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膜厚仪CMI243
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型号
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CMI243
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品牌
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英国牛津仪器Oxford
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用途
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专门为测量磁性金属上的 ( 如锌、镍等 ) 涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪
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测试原理
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独特的涡电流测试方法
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测量范围
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0.08-1.50mils(2-38um)
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测量精度
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±1%
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分辨率
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0.01mils(0.1um)
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探头
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ECP-M锌镍均可测量
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单位
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公、英制可以转换（mils、um）
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统计数据显示
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读取次数、平均值、标准差、*高值、*低值、*终值
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接口
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RS-232
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显示
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液晶显示，字符高12.7mm
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按键
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16键
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执行标准
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ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168(DRAFT);BS 5411
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记忆储存
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12400个数据
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重量
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260g(含电池)
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外型尺寸
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14.9X7.94X3.02cm
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电池
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9V电池(周)
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产地
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美国
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中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
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