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英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪
产品型号: CMI563
产品展商: 英国牛津仪器(Oxford)
关注指数:199
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简单介绍
英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换,更换探针更为方便和经济。

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪

   的详细介绍

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪

 

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换,更换探针更为方便和经济。

 

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪测试原理:

CMI563采用微电阻测试技术,提供了**测试表面铜铜厚(包括覆铜板、化学铜和电镀铜板)的方法。由于采用了目前市场上*为先进的测试技术,无论绝缘板层多厚,印刷电路板背面铜层不会对**可信的测量结果产生影响。

 

 

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪常规参数:

铜厚测量范围:
非电镀铜:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
电镀铜:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测线宽范围:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

准确度:±1% (±0.1 μm)参考标准片
**度:非电镀铜:标准差0.2 %;
电镀铜:标准差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

接口:RS-232串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
显示:4数位LCD液晶显示,2数位存储位置,字符高1/2英寸(1.27厘米)

存储量:13,500条读数
统计显示:测量个数,标准差,平均值,*大值,*小值。

单位:通过一个按键实现英制和公制的自动转换
电池:9伏电池
电池寿命:65小时连续使用

重量:9盎司(0.26千克)包括电池

尺寸:5 7/8英寸(长)×3 1/8英寸(宽)×1 3/16英寸(高) (14.9×7.94×3.02厘米)

 

另有耗材——面铜测厚仪探头销售。

 

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