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L200薄膜测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: L200薄膜测厚仪
产品型号: L200
产品展商: 其它品牌
关注指数:2803
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简单介绍
L200薄膜测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。 本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。

L200薄膜测厚仪

   的详细介绍

L200薄膜测厚仪
简单介绍 :
L200测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。
可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等),也可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。


详细介绍:
    美国LEE INSTRUMENTS公司是专业生产涂层测厚仪的公司,产品精度高,稳定可靠,坚固耐用!一直为美国军方和航空航天行业独自使用,近年来美国才允许出口到国外!
    L200涂镀层测厚仪设计便携耐用,使其能在苛刻条件下正常使用,具有一键操作功能,无须校准,也不用重设即可进行下一次测量,无需对操作人员进行培训即可操作。
L200 测厚仪功能:
    可进行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。可对探头进行基本校准。具有自动关机功能。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。


L200薄膜测厚仪指标:
*测量原理:磁感应法和涡流法(Fe/NFe两用探头)
*测量范围:1~1250μm
*测量准确度:±[(1~3)%H+1] μm(全量程校准)
*分辨率:1μm
*工件要求:*小曲率半径(mm)凸5  /  凹 25 ;
                   接触*小面积直径10mm×10mm;
                   基体*小厚度Fe:0.2 mm;NFe:0.05mm
*使用环境:温度0-60摄氏度;湿度 20%-75% ;无磁场环境
*电源:四节1.5伏AAA电池
*外形尺寸:112 ×69×28mm
*重量:82 g(不含电池)

标准配置:
主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池



 

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